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介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)Z高的160MHz。雙掃描技術(shù)，測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。雙測(cè)試要素輸入，測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

產(chǎn)品型號(hào)：ZJD-C
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-02-10
訪問量：4064

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介電常數(shù)測(cè)試儀

硫化橡膠介電常數(shù)測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)試儀陶瓷材料介電常數(shù)測(cè)試儀橡膠介電常數(shù)測(cè)試儀絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試儀工頻介電常數(shù)測(cè)試儀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

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詳細(xì)介紹

品牌	AIRTIMES/中航時(shí)代	產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	紡織/印染

　　ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

一、概述：

　　ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz。

　　雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

　　雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

　　雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

　　自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

　　全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

　　DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。

　　計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化 —使測(cè)試回路殘余電感減至低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

　　二、主要技術(shù)特性：

　　Q 值測(cè)量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

　　固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ～ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)

　　工作誤差:≤ 7 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ～ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)

　　電感測(cè)量范圍: 4.5nH ～ 140mH

　　電容直接測(cè)量范圍: 1 ～ 200pF

　　主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF

　　主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %

　　信號(hào)源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz

　　頻率分段( 虛擬 ): 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

　　頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字

　　三、夾具工作特性

　　1.平板電容器：

　　極片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選

　　極片間距可調(diào)范圍： ≥15mm

　　2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

　　3. 夾具損耗正切值：≤4×10-4 (1MHz)

　　4.測(cè)微桿分辨率： 0.001mm

　　四、配置：

　　主機(jī) 一臺(tái)

　　電感九支

　　夾具一套

　　隨機(jī)文件一套

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